• Zuverlässige, wiederholbare Messung der dynamischen Eigenschaften von Leistungshalbleitern mit breitbandem Abstand (SiC, GaN) für diskrete Geräte und Leistungsmodule.
• Zu den gemessenen Eigenschaften gehören Einschalten, Ausschalten, Umschalten, Rückwärtsgewinnung, Torladung und viele andere.
• Eine "True Pulse" Isolationssonde zur Messung des Hochseitengeräts eines Strommoduls.
• Lötlose Kontakttechnologie für wiederholbare, zuverlässige Ergebnisse ohne Lötung.
• Sichere Prüfumgebung sowohl für die DUT als auch für den Anwender.
• Eine anpassbare, erweiterbare, aktualisierbare, modulare Plattform ermöglicht die Prüfung aller Leistungseinrichtungen.

Als bereitgestellte Messlösung liefert der PD1550A zuverlässige, wiederholbare Messungen von Breitband-Halbleiter-Leistungsmodulen.Die Plattform gewährleistet die Sicherheit der Benutzer und den Schutz der Messhardware des SystemsDie Fähigkeit, wiederholbare, zuverlässige Ergebnisse des Double Pulse Tests (DPT) zu gewährleisten, basiert auf Keysight's mehr als 80jähriger Erfahrung in der Messwissenschaft.Mit der Erfahrung, die durch die enge Zusammenarbeit mit Kunden und Normungsorganisationen mit der PD1500A gewonnen wurde, Keysight hilft nun Kunden, die Herausforderungen der dynamischen Charakterisierung von WBG-Leistungsmodulen zu bewältigen.niedriges Leckage (Femtoampere)Das Keysight-System ist daher in einer einzigartigen Position, um Ihnen zu helfen, die Herausforderungen der dynamischen Leistungs-Halbleiterschreibung zu meistern.

Mit dem PD1550A sind standardmäßig erweiterte Messtechniken wie Sondenkompensation, Versetzungsregelung, Verzerrung und Common Mode Noise Rejection enthalten.Diese Techniken werden in einer innovativen Messtopologie und -gestaltung eingesetztEine halbautomatische Kalibrierroutine (AutoCal), die für Systemverstärkung und Kompensationsfehler korrigiert, wurde speziell für dieses System entwickelt.Das System verwendet auch De-Embedding-Techniken, um induktive Parasiten im aktuellen Shunt zu kompensierenDie True Pulse Isolate Probe-Technologie für genaue Messungen der hohen Seiten von Vgs und die Lötungslose Kontakttechnologie ermöglichen wiederholbare zuverlässige Messungen, ohne große Kontaktpolster lösen zu müssen.

Der Joint Electron Device Engineering Council (JEDEC) ist weltweit führend bei der Entwicklung offener Standards und Publikationen für die Mikroelektronikindustrie.JEDEC-Ausschüsse sind führend in der Entwicklung von Standards für eine breite Palette von Technologien.

JEDEC-Ausschuss: JC-70 Breitbandspannung Elektronische Leistungskonversion Halbleiter
Die JEDEC-Standards erkannten die Notwendigkeit an, WBG-Standards für die Leistungshalbleiterindustrie bereitzustellen.Das JC70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductor Komitee wurde für beide GaN JC70 gebildet.1 und SiC JC-70.2 Jeder Abschnitt hat drei Arbeitsgruppen, die sich auf die Verfahren für Zuverlässigkeit und Qualifikation, die Elemente und Parameter des Datenblatts sowie die Prüf- und Charakterisierungsmethoden konzentrieren.

Keysight beteiligt sich aktiv an der Entwicklung dieser Standards.

Da JEDEC die dynamischen Tests von WBG-Geräten weiter definiert, beginnen einige standardisierte Tests zu entstehen.

• Eigenschaften des Einschaltens
• Auslöschmerkmale
• Dynamischer Einsatzwiderstand
• Dynamischer Strom und Spannung
• Wechselmerkmale