• Zuverlässige, wiederholbare Messung der dynamischen Eigenschaften von Leistungshalbleitern mit breitem Band (SiC, GaN).
• Zu den gemessenen Eigenschaften gehören Einschalten, Ausschalten, Umschalten, Rückwärtsgewinnung, Torladung und viele andere.
• Sate-Testumgebung sowohl für das DUT als auch für den Anwender.
• Eine erweiterbare, aktualisierbare, modulare Plattform ermöglicht die Prüfung aller Leistungseinrichtungen.

Der PD1500A bietet als bereitgestellte Messlösung zuverlässige, wiederholbare Messungen von Breitband-Halbleitern.Die Plattform gewährleistet die Sicherheit der Benutzer und den Schutz der Messhardware des Systems.

Die Fähigkeit, wiederholbare DPT-Ergebnisse zu gewährleisten, basiert auf Keysight's Expertise in der Messwissenschaft.geringer Leckage (Femtoampere-Bereich)Das Keysight-System ist daher in einer einzigartigen Position, um Ihnen zu helfen, die Herausforderungen der dynamischen Leistungshalbleitercharakterisierung zu bewältigen.

Mit dem PD1500A sind Standard-Messtechniken wie Sondenkompensation, Versetzungsregelung, Verzerrung und Common-Mode-Rauschabweisung enthalten.Diese Techniken werden in einer innovativen Messtopologie und -gestaltung eingesetztEine halbautomatische Kalibrierroutine (AutoCal), die für Systemverstärkung und Versatzfehler korrigiert, wurde speziell für dieses System entwickelt.Das System verwendet auch De-Embedding-Techniken, um induktive Parasiten im aktuellen Shunt zu kompensieren.

JEDEC ist weltweit führend bei der Entwicklung offener Standards und Publikationen für die Mikroelektronikindustrie.JEDEC-Ausschüsse sind führend in der Entwicklung von Standards für eine breite Palette von Technologien.

JEDEC-Ausschuss: JC-70 Breitbandspannung Elektronische Leistungskonversion Halbleiter
Die JEDEC-Standards erkannten die Notwendigkeit an, WBG-Standards für die Leistungshalbleiterindustrie bereitzustellen.Das JC70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductor Komitee wurde für beide GaN JC70 gebildet.1 und SiC JC-70.2 Jeder Abschnitt hat drei Arbeitsgruppen, die sich auf die Verfahren für Zuverlässigkeit und Qualifikation, die Elemente und Parameter des Datenblatts sowie die Prüf- und Charakterisierungsmethoden konzentrieren.

Keysight beteiligt sich aktiv an der Entwicklung dieser Standards.

Da JEDEC die dynamischen Tests von WBG-Geräten weiter definiert, beginnen einige standardisierte Tests zu entstehen.

• Eigenschaften des Einschaltens
• Auslöschmerkmale
• Dynamischer Einsatzwiderstand
• Dynamischer Strom und Spannung
• Wechselmerkmale
• Umgekehrte Rückforderung
• Torgebühr
• Abgeleitete Ausgangsmerkmale